Thin film analysis by x ray scattering

1/1
Afbeelding van Thin film analysis by x ray scattering
Fnac
Prijzen vanaf
186,13

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (1)

Beschrijving

Fnac Mario Birkholz (Auteur) - Verschenen op 26/10/2005 bij John Wiley & Sons Inc.
Description Beschrijving
Product Specifications Productspecificaties
Price History Prijshistorie
Gerelateerde resultaten Gerelateerde resultaten
Next
Previous

Vergelijk aanbieders (1)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
Fnac Logo
186,13
4,99
191,12
Naar shop
4,99 Shipping Costs
Beschrijving (1)

Mario Birkholz (Auteur) - Verschenen op 26/10/2005 bij John Wiley & Sons Inc.

Productspecificaties

Merk John Wiley & Sons Inc
EAN
  • 9783527310524

Prijshistorie

Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:

Raman Emission By X ray Scattering

74,14
Meer informatie Meer info

X Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films

83,37
Meer informatie Meer info

Surface And Thin Film Analysis

45,00
Meer informatie Meer info

Nanobeam X Ray Scattering

99,99
Meer informatie Meer info
Uitgelichte Keuze
186,13
Naar shop