Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Prijzen vanaf
66,27

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (1)

Beschrijving

Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Description Beschrijving
Product Specifications Productspecificaties
Gerelateerde resultaten Gerelateerde resultaten
Next
Previous

Vergelijk aanbieders (1)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
Amazon Logo
66,27
Gratis
66,27
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Beschrijving (0)

Superlattice and Strained Layers of Compound Semiconductors: Analytical Method Characterization

Productspecificaties

Merk LAP LAMBERT Academic Publishing
EAN
  • 9786630234442

Compound Semiconductors Strained Layers and Devices

145,00
Meer informatie Meer info

Growth and Characterization of Semiconductors

26,07
Meer informatie Meer info
-1%

Processing and Properties of Compound Semiconductors

179,00
Meer informatie Meer info
-2%

Silicon Germanium Strained Layers and Heterostructures

169,00
Meer informatie Meer info
Uitgelichte Keuze
66,27
Naar shop