SEMICONDUCTOR FABRICATION YIELD ENGINEERING: Process Control Statistical Methods and Defect Density Reduction

Prijzen vanaf
12,98

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2)

Beschrijving

Amazon Pages: 155, Paperback, Independently published
Description Beschrijving
Product Specifications Productspecificaties
Related Products Gerelateerde producten
?>
Next
Previous

Vergelijk aanbieders (2)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
Amazon Logo
12,98
2,49
15,47
Naar shop
2,49 Shipping Costs
Amazon Marketplace Logo
12,98
2,49
15,47
Naar shop
2,49 Shipping Costs
Beschrijving (1)

Pages: 155, Paperback, Independently published

Productspecificaties

Merk Independently Published
EAN
  • 9798252082486

Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:

Independently Published

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING PROCESS CONTROL: Lithography Yield Enhancement Defect Analysis and Fabrication Optimization

11,63
Vergelijk 2 shops 2 shops

Independently Published

SEMICONDUCTOR PROCESS VARIATION and Design ROBUSTNESS: Statistical Modeling Yield Prediction Tolerance Driven

12,98
Vergelijk 2 shops 2 shops

Distribution Free Methods for Statistical Process Monitoring and Control

88,28
Meer informatie Meer info

Semiconductor Device Fabrication Process

19,00
Meer informatie Meer info
Uitgelichte Keuze
12,98
Naar shop