Multiple Sensing-Driven Feature Extraction and Defect Detection

Prijzen vanaf
149,79

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2)

Beschrijving

Multiple Sensing-Driven Feature Extraction and Defect Detection

Description Beschrijving
Product Specifications Productspecificaties
Gerelateerde resultaten Gerelateerde resultaten
Next
Previous

Vergelijk aanbieders (2)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
Amazon Logo
149,79
Gratis
149,79
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Amazon Marketplace Logo
149,79
Gratis
149,79
Naar shop
Gratis Shipping Costs
Beschrijving (0)

Multiple Sensing-Driven Feature Extraction and Defect Detection

Productspecificaties

Merk Springer
EAN
  • 9789819648108

Multiple Sensing Driven Feature Extraction and Defect Detection

137,33
Meer informatie Meer info

MDPI AG

Sensing and Imaging for Defect Detection

148,36
Vergelijk 2 shops 2 shops

Springer

Multiple Feature Object Based Change Detection Technology for Very High Resolution Remote Sensing Image

142,99
Meer informatie Meer info

Earth and Environmental Science (R0) Multiple Feature Object Based Change Detection Technology...

147,14
Meer informatie Meer info
Uitgelichte Keuze
149,79
Naar shop