Kontrola starzenia się tranzystorów mocy

Prijzen vanaf
61,99

Uitgelicht

Beschrijving

Bol Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.

Vergelijk aanbieders (1)

Sorteren op:

€ 61,99 Gratis verzending

Beschrijving (1)

Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.


Productspecificaties

EAN
  • 9786208939489
Maat


Prijshistorie

Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:

Uitgelichte Keuze
61,99
Naar shop