Frontiers of characterization and metrology for nanoelectron

Prijzen vanaf
174,98

Uitgelicht

VERGELIJK ALLE AANBIEDERS (2)

Beschrijving

Bol Partner As the semiconductor industry continues to move toward silicon nanoelectronics and beyond, the introduction of new materials, innovative processing and assembly, and novel devices brings formidable metrology challenges. This book emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics.

Vergelijk aanbieders (2)

Shop
Prijs
Verzendkosten
Totale prijs
174,98
gebruikt
Gratis
174,98
Naar shop
Gratis Shipping Costs
199,72
2,99
202,71
Naar shop
2,99 Shipping Costs
Beschrijving (2)
Bol Partner

As the semiconductor industry continues to move toward silicon nanoelectronics and beyond, the introduction of new materials, innovative processing and assembly, and novel devices brings formidable metrology challenges. This book emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics.

Fnac

Collectif (Auteur) - Verschenen op 01/11/2009 bij Springer Libri


Productspecificaties

Merk Springer Libri
EAN
  • 9780735407121
Maat


Prijshistorie

Prijzen voor het laatst bijgewerkt op:

Uitgelichte Keuze
174,98
Naar shop